IGBT高低温测试

IGBT 属于功率半导体器件, 在新能源汽车领域, IGBT 作为电子控制系统和直流充电桩的核心器件, 直接影响电动汽车的动力释放速度,车辆加速能力和高速度.

普泰克IGBT高低温测试拥有广泛的温度范围-80℃到+225℃,温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒,能满足IGBT温度冲击试验的要求。同时也能做特性分析、高低温温变测试、失效分析等可靠性试验,如:芯片、微电子器件、集成电路(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)

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应用于元器件的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,此类设备解决传统高低温箱无法满足的局部测试要求,设备移动方便、适合对众多元器件的某个单个元器件或具有平坦表面且结构扁平器件的高低温测试。

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又叫做:接触式高低温设备、接触式局部快速温变仪、接触式芯片高低温测试设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流式高低温设备(热流仪、温箱等)相比具有升降温效率高,操作简单方便,体积小巧,噪音低等特点。

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